菲希爾XDV-SDD X射線測(cè)厚儀信息 |
點(diǎn)擊次數(shù):61 更新時(shí)間:2025-04-22 |
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線測(cè)厚儀:能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀,配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái),用于自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析。 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀,特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái),是全自動(dòng)測(cè)量樣品的理想設(shè)備。 儀器設(shè)計(jì)特點(diǎn) XDV-SDD 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量儀器,具備以下特性: 配備高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降臺(tái),當(dāng)具有防護(hù)功能的測(cè)量門開啟時(shí),樣品臺(tái)能自動(dòng)移出到放置樣品的位置。 通過激光點(diǎn),可以快速對(duì)準(zhǔn)需要測(cè)量的位置;儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng),簡化了樣品放置的過程,并可對(duì)測(cè)量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調(diào)。 測(cè)量門向上開啟,采用側(cè)面開槽設(shè)計(jì)。 軟件操作 所有的儀器操作,以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示,都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的 WinFTM® 軟件在電腦上完成。 菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD技術(shù)參數(shù) 元素測(cè)定:最多可同時(shí)測(cè)定從鋁(13)到鈾(92)中的 24 種元素。 工作臺(tái)與升降臺(tái):馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺(tái) 。 準(zhǔn)直器與濾片:馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。 儀器配置:配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管,三擋可調(diào)節(jié)高壓,6 個(gè)可切換的基本濾片。 |