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微電腦多功能電解測厚儀Couloscope CMS2

主要特點(diǎn)：

●大尺寸高分辨率的彩色顯示器 ●簡單的操作和圖示的用戶指導(dǎo) ●使用 V18 支架實(shí)現(xiàn)半自動化測量 ●電解速度和測量面積的簡單選擇 ●（0.1 ----50 μm/min） 和（0.6 ----3.2 mm ?） ●電壓曲線圖形顯示、圖形和統(tǒng)計(jì)分析 ●多語言和計(jì)量單位可供選擇

 測量方法：

德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀-----根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度 。CMS2 可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）。

產(chǎn)品介紹：

簡單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使 CMS2 成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。 設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近 100 個預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳） , 以及各種電解速度（例如 1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法準(zhǔn)確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試，以檢測電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）。

COULOSCOPE CMS2 應(yīng)用：

強(qiáng)大并且用戶友好的 COULOSCOPE CMS2 適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用 CMS2 簡單快速地測量。 這個方法為任何金屬鍍層提供了準(zhǔn)確的測量。 在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多材料不需要預(yù)設(shè)定； 基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的。 常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確?？珊感?。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS）基材上，經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個方法進(jìn)行測量。 常見應(yīng)用有金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層、單層或多層的鍍層厚度測量、特別適用于通過 STEP 測試進(jìn)行多層鎳測量、適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測量。

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